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Hall8800foranalysisofHall-effectHall8800霍尔效应分析仪应用范围:研究半导体器件和半导体材料电学特性、精密测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等...

霍尔效应测试仪器-德国Phy...

技术参数:一.磁场:1磁场强度:1T电磁体2磁场类型:电磁体(进口产品)3磁场均匀性:磁场不均匀性<±1%10年内磁场变化<±0.2%二.温度:1温度区域:77K(液氮温度)或室...

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FT1030深能级瞬态谱仪器PhysTech在1990年推出了台数字DLTS,随着电脑技术的发展,使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础上,用各种数学模型分析测量到的瞬态过程...

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SSP-354碳纳米管台式炉SSP-354碳纳米管台式炉是美国Nanotech的优势产品,Nanotech技术起源于NASA的格伦碳纳米管研究中心。这项技术能够生产出高纯度、低缺陷密度的碳纳米管。目...

电容层析成像分析仪器-英国I...

电容层析成像分析系统电容层析成像(ElectricalCapacitanceTomography,简称ECT)技术根据被测物质各相具有不同的介电常数,当各相组分分布或浓度分布发生变化时,将引起混合流...

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PHYSTECH霍尔效应测试仪器1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si,SiGe,SiC,...

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